磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于中心导体法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤是基于（）材料的（）高的特性来检验零件表面和近表面的缺陷。
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磁粉探伤法主要是利用铁磁材料表面缺陷处形成（）吸引磁粉进行探伤的。
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下列（）缺陷能用磁粉探伤检出。
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为了用磁粉探伤方法检测材料中不同方向的缺陷，最好使用（）
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磁粉探伤的深度主要取决于工件材料的磁导率，缺陷的类型及磁化电流的（）和（）
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磁粉探伤只适用于探测铁磁性材料和工件的缺陷。
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磁粉探伤适用于探测（）材料的零件表面缺陷。
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤主要用于检测（）材料的（）及（）部位的缺陷
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能用磁粉探伤检出的缺陷是（）。
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磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷
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金属材料在交变磁场作用下产生涡流，根据涡流的大小和分布可检出铁磁性材料的缺陷，称这种检出缺陷的方法为磁粉探伤。
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磁粉探伤可以探测（）材料的零件表面缺陷。
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磁粉检测法，可用于铁磁材料的表面和近表面缺陷的检测，可用于奥氏体不锈钢铝镁合金制品中的缺陷探伤检测。
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磁粉探伤是一种利用由缺陷产生的漏磁场对磁粉吸引现象为基本原理的无损检测方法，这种方法可用于：（）。
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磁粉探伤法主要用于检测焊缝的（）缺陷。
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磁粉探伤只能发现铁磁性材料中表面缺陷。
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人工缺陷试环用于（）法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于周向直接通电法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于旋转磁场法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于复合磁化法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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超声波、X射线探伤适用于探伤内部缺陷,其中超声波适用于5mm以上,且形状规则的部件,X射线不能定位缺陷的埋藏深度,有辐射。磁粉、渗透探伤适用于探伤部件表面缺陷,其中磁粉探伤仅限于检测磁性材料,渗透探伤仅限于检测表面开口缺陷（）
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磁粉探伤是通过磁粉在缺陷附近漏磁场中的堆积以检测铁磁性材料表面或近表面处缺陷的一种无损探伤方法。其特点不包括（）
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常见材料缺陷检测方法包括磁粉探伤、渗透探伤和涡流探伤等几种。（)
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