器件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的（)变化。
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THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器件温度不稳定，有跳变，可能出现问题的部件有（）
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光纤通信中，对光器件要较高的稳定度，即使环境温度变化或器件老化过程中，稳定度要保持在（）
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THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。
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碲镉汞器件的波长范围λ为（）。
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有关THDS-A轴温探测系统是通过控制光子探头内制冷器件的（）来达到控制制冷器件温度的目的。
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THDS-A红外轴温测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。
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THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。
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温度稳定放大器中决定增益的主要器件是（）。
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碲镉汞器件的峰值波长为（）。
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元器件的安装高度要尽量低，一般元器件和引线离开板面不超过5mm。过高则承受振动和冲击的稳定性变差，容易倒伏或与相邻元器件碰接。
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温控板是控制碲镉汞器件温度的电路板，具有（）种控制模式。
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THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
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碲镉汞响应时间常数比热敏电阻小（）数量级。
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THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有（)种调整制冷方式。
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THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率（）
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THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（）
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THDS-B（康拓）器件温度不稳定或有跳变，哪些地方可能出现问题？（）
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碲镉汞器件需要在低温条件下工作，以获得比较高的（)和信噪比，因此要对碲镉汞进行致冷，降低器件温度。
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THDS-C系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。（)
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THDS-BS系统碲镉汞器件需要在低温条件下工作，以获得比较高的响应率和信噪比，因此要对碲镉汞进行致冷，降低器件温度。（)
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THDS-C红外轴温探测系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。（)
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（）焊接温度过高可以加快焊料氧化，容易损坏元器件
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THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统碲镉汞器件需要在低温条件下工作，以获得比较高的和信噪比，因此要对碲镉汞进行制冷，降低器件温度（）
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器件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（)。
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