CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()

A . 测定斜探头K值 B . 测定直探头盲区范围 C . 测定斜探头分辨率 D . 以上全部

时间:2022-09-27 17:21:11 所属题库:无损探伤工(初级)题库

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