由被检工件引起的散射线是()
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渗透液在被检工件表面上的喷涂应()
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控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方()
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由被检批中抽取用于检验的单位商品(即样品)的全体,称为()
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渗透检测仅用于检测被检工件的()缺陷。
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磁粉检测用于检测被检工件()缺陷。
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由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时,受到被检体各组织的吸收和散射而衰减,使透过的X线强度的分布呈现差异,到达屏片系统,转换成可见光强度的分布差异,并传递给胶片,形成银颗粒的空间分布,再经显影处理成为二维光学分布,形成X线照片影像。被检体各组织对X线的吸收和散射是由于().
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在机械制图中,工件的可见轮廓线是用粗实线,不可见轮廓线是用虚线,尺寸线和剖面线是用细实线,工件中心线用点划线表示。
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门窗外观检查可采取在良好的自然光或散射光照条件下,距被检对象表面约()处进行观察。
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对工件干燥处理时,被检面的温度不得大于50℃。
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在X射线实时成像检测中,测量出X射线机焦点到被检工件表面的距离L1=55cm,被检工件表面至成像平面的距离L2=55cm,图像放大倍数()。
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控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?()
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X射线安全检查设备是利用X射线和()相互作用时发生的光电吸收、康普顿散射、瑞利散射和电子对效应从而得到被检物的特征信息。
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用连续法检测时,检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关,还受被检工件材质的影响。
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探头与被检工件表面直接接触的方法,可用来作()。
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为保证定时散射比浊分析所获取的信号峰值为被检抗原产生,设计时采用()
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X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
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为保证定时散射比浊分析所获取的信号峰值为被检抗原产生,设计时采用()
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在常规射线照相检验中,散射线是无法避免的。
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在被检工件上施加显像剂的目的是()并提供背景反差。
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渗透液在工件被检表面的喷涂应该()
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若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,将会引起()。
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止端螺纹量规绝不允许与被检工件旋合。()
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通端螺纹量规与工件顺利旋合通过,就表示被检工件合格。()
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