射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。

A . 测量缺陷的大小 B . 测量缺陷的位置 C . 测量缺陷的几何不清楚度 D . 确定底片的彩像质量

时间:2022-10-08 05:35:16 所属题库:初级无损检测技术资格题库

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