谱线与化学元素密切相关，被称为原子的指纹。

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• 谱线与化学元素密切相关，被称为（）的指纹。

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• （）被称为原子的指纹。

  A . A、质子数 B . B、电荷数 C . C、谱线 D . D、原子量

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• 被称为原子指纹的是（）

  A . A、亮度 B . B、线光谱 C . C、质量 D . D、密度

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• 原子吸收光谱分析过程中，被测元素的相对原子质量愈小，温度愈高，则谱线的热变宽将是（）。

  A、愈严重 B、愈不严重 C、基本不变 D、不变

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• 氢原子光谱的可见光区谱线称为巴尔麦线系。

  A . 正确 B . 错误

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• 原子吸收光谱法是基于从光源辐射出待测元素的特征谱线，通过样品蒸气时，被蒸气中待测元素的（）所吸收，由辐射特征谱线减弱的程度，求出样品中待测元素含量。

  A . 分子 B . 离子 C . 激发态原子 D . 基态原子

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• 基于元素所产生的原子蒸气中待测元素的基态原子对所发射的特征谱线的吸收作用进行定量分析的技术是()

  A . A．吸收光谱分析法 B . B．散射光谱分析法 C . C．原子吸收光度法 D . D．发射光谱分析法 E . E．荧光定量分析法

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• 由原子无规则的热运动所产生的谱线变宽称为（）。

  A . A、自然变度 B . B、斯塔克变宽 C . C、劳伦茨变宽 D . D、多普勒变宽

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• 原子吸收分光光度法中，元素的谱线数目，取决于（）。

  A . 原子内能级的数目 B . 原子外能级的数目 C . 原子中电子的数目

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• 原子吸收光谱法是基于从光源辐射出（）的特征谱线，通过样品蒸气时，被蒸气中待测元素的基态原子所吸收，由辐射特征谱线减弱的程度，求出样品中待测元素含量。

  A . 待测元素的分子 B . 待测元素的离子 C . 待测元素的电子 D . 待测元素的基态原子

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• 在原子吸收光谱分析过程中，被测元素的原子质量愈小，温度愈高，谱线的热变宽将（）。

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• 原子吸收分光光度法是基于从光源辐射出待测元素的特征谱线的光，通过样品的蒸气时，被蒸气中待测元素的（）所吸收

  A . A、原子 B . B、基态原子 C . C、激发态原子 D . D、分子

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• 原子吸收分光光度计的分光系统，只是把待测原子的吸收线与其它谱线（），而不是用它来获得（）。

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• 原子吸收光谱分析过程中，被测元素的相对原子质量愈小，温度愈高，则谱线的热变宽将（）。

  A . 愈严重 B . 愈不严重 C . 基本不变 D . 不变

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• 原子吸收光谱分析法是基于待测元素的（）对光源辐射出待测元素的特征谱线的吸收程度。

  A . 原子 B . 激发态原子 C . 分子 D . 基态原子

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• 原子的K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可以产生一系列的谱线，称为（）谱线。

  A . L系 B . M系 C . K系 D . N系

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• 卢瑟夫原子模型不能解释光谱线，可以解释元素周期律。（）

  A . 正确 B . 错误

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• 基于元素所产生的原子蒸气中待测元素的基态原子对所发射的特征谱线的吸收作用进行定量分析的技术是（）。

  A . 吸收光谱分析法 B . 发射光谱分析法 C . 散射光谱分析法 D . 原子吸收分光光度法 E . 荧光分析法

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• 被称为原子指纹的是:

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• 卢瑟夫原子模型不能解释光谱线,可以解释元素周期律。

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• 原子吸收光谱仪的空心阴极灯发射出一定强度和一定波长的供待测元素吸收的特征谱线，由原子化器将待测元素原子化，并吸收光源中的部分特征谱线，由分光系统和检测系统完成待测元素吸光度的测定。（)

  是 否

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• 原子吸收光谱分析中，当共存元素吸收线与待测元素吸收波长很接近时，两谱线重叠，会导致测定结果偏低。

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• 原子吸收光谱法是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法。其基本原理是从空心阴极灯或光源中发射出一束特定波长的入射光，通过原子化器中待测元素的原子蒸汽时，部分被吸收，透过的部分经分光系统和检测系统即可测得该特征谱线被吸收的程度即吸光度，根据吸光度与该元素的原子浓度成线性关系，即可求出待测物的含量。

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