X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

相似题目

• 影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。

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• X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。

  A . 谱线 B . 波长 C . 特征线 D . 强度

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• X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。

  A . 不连续 B . 连续 C . 散射 D . 相对

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• X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？

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• X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

  A . 增大 B . 减小 C . 不变 D . 无变化

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• X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

  A . 粒度效应 B . 吸收 C . 增强 D . 矿物效应

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• X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。

  A . A、特征光谱 B . B、散射线 C . C、带状光谱 D . D、连续光谱

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• X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。

  A . A、特征光谱 B . B、连续光谱 C . C、带状光谱 D . D、散射线

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• X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

  A . 正确 B . 错误

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• 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。

  A . 计算法 B . 实验 C . 作图法 D . 回归方程

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• X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。

  A . 经验系数法 B . 计算法 C . 基本参数法 D . 理论影响系数法

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• X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

  A . 正确 B . 错误

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• 在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）

  A . 有代表性 B . 试样均匀 C . 表面平整、光洁、无裂纹 D . 试样有足够厚度，不变形

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• 设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。

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• X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。

  A . 气体 B . 惰性 C . 分析 D . 氧化性

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• X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

  A . 定性分析 B . 定量分析 C . 都不是

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• X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和

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