SEM(扫描电子显微镜)利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种——来调制成像的。 ()
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利用显微镜观察样品，要进行聚焦，正确的做法是（）。
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扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察，在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高，可达（）nm。
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电子探针成分分析一般是借助于入射电子束作用于样品表面产生的（）的（）和（）来实现的。
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石英颗粒表面显微观测（SEM）法可用于测定（）以来的样品的相对年龄。
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扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM）
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电子沿水平方向扫的描称为行扫描，电子沿垂直方向的扫描称为场扫描。
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SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（）。
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扫描电子显微镜主要用于观察样品的表面形貌，常常采用CO2对生物样品进行干燥。为了得到良好的表面导电性，样品在观察前还需要（）。
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电子束焊是利用加速和聚焦的电子束轰击焊件，（）进行焊接的方法。
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扫描电子显微镜是利用（）轰击固体样品。
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与其他电子显微镜相比，扫描隧道显微镜在技术上的最大突破是能对活样品进行观察。（）
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纸张分析设备（）用聚焦电子束在纸张表面逐点扫描成像，图像具有立体感、真实感、易于识别和解释等特点。
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背散射电子产生于样品表面的5～10纳米。
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在入射电子作用下，使样品原子的外层价电子或自由电子被击出样品表面，所以称之为“二次电子”。
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扫描电子显微镜的样品上，入射电子束和显像管中的电子______扫描，荧光屏上每一像点的亮度，对应于样品相应位置的信号强度。
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扫描电镜不用电磁透镜放大成像，也不用电子束成像，而是利用电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像（ ）
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扫描电镜的背散射电子产额与样品的平均原子序数成正比。
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扫描隧道显微镜可以用来探测样品表面的信息。（）
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在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子叫做背散射电子( )
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电子束与固体样品相互作用产生的信号中，能产生表面形貌衬度的有（ ）。
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扫描电镜（SEM）的结构由电子光学系统，信号收集和显示系统，真空系统和电源系统构成。
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扫描电镜中电子束入射物体表面的作用区域
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sem扫描电子显微镜
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在ITMC电子商务沙盘系统中SEM关键词匹配方式分为（）
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