以下是JB4730-2005与JB4730-94新老两标准的部分比较，正确的是：（）

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• 根据JB/T4730.2-2005标准规定，以下关于底片黑度范围的叙述，正确的是：（）

  A . 底片评定范围内的黑度规定与检测技术等级有关 B . 用X射线或γ射线透照小径管时，AB级最低黑度允许降至1.5 C . 采用多胶片方法时，单片观察的的黑度应不低于1.3 D . 若有计量报告证明观片灯亮度满足要求，可对D＞4.0底片进行评定

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• JB4730-94是（）标准。

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• 下列说法与JB/T4730.5-2005相符合的是：（）

  A . 干式显像剂应对其比重进行经常校验 B . 干式显像剂应经常检查粉末凝聚 C . 干式显像剂应经常检查残留荧光 D . 干式显像剂对工件无腐蚀

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• 根据JB/T4730-2005标准规定，关于圆形缺陷的质量分级，以下叙述正确的是：（）

  A . 圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形 B . 在标准规定的条件下，各级别的圆形缺陷点数可放宽1～2点 C . 当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量级别应评为Ⅳ级 D . 质量等级为Ⅰ级和Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级

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• JB/T4730.4-2005标准规定磁轭提升力指标，磁轭平均吸引力与下列因素有关的是：（）

  A . 铁素体钢板的磁导率 B . 铁素体钢板的电导率 C . 磁极间距 D . 磁极间隙

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• 下列关于磁粉检测用设备和器材质量控制的叙述，与JB/T4730.4-2005标准相符合的是（）。

  A . A、磁粉检测用的毫特斯拉计每半年校验一次 B . B、电磁轭的提升力至少半年校验一次，在磁轭损伤修复后应重新校验 C . C、磁场强度计至少每月校验一次 D . D、磁粉检测设备的电流表，至少每三个月校验一次

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• 根据JB/T4730.2-2005标准规定，以下关于钢制承压设备压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级的叙述，正确的是：（）

  A . 对接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷 B . 质量等级是根据对接接头中的缺陷性质、数量和密集程度来划分的 C . 小径管的圆形缺陷评定区为10mm×10mm，评定区大小与母材公称厚度无关 D . 未焊透缺陷分级时，对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度

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• 对渗透检测剂的描述与JB/T4730.5-2005相符合的说法是：（）

  A . 荧光渗透剂的荧光效率不得低于75% B . 被校验的渗透剂与基准渗透剂的颜色浓度差超过20%时，应作为不合格处理 C . 渗透检测剂包括渗透剂、清洗剂和显像剂 D . 渗透剂必须标明生产日期和有效期，要有产品合格证和使用说明书

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• JB/T4730.5-2005标准规定，镀鉻试块不可用于以下情况：（）

  A . 检验渗透检测剂系统灵敏度 B . 对用于非标准温度下的渗透检测方法作出鉴定 C . 在正常使用状态下，检验渗透检测剂能否满足要求 D . 检验渗透剂渗透速度

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• JB/T4730.4-2005标准对综合评级是如何规定的？

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• 下列试块的叙述与JB/T4730.5-2005相符合的是：（）

  A . A型对比试块A、B试块上具有细密相对称的裂纹图形 B . A型对比试块是淬火裂纹 C . B型试块是辐射状裂纹 D . B型试块的材质是铝合金

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• 下列叙述与JB/T4730.5-2005标准规定不相符合的是：（）

  A . 渗透检测质量分级考虑到了缺陷性质、数量、尺寸和密集程度 B . 圆形缺陷的分级既限定了单个缺陷最大尺寸，又限定了缺陷密集程度 C . 焊接接头不允许存在横向线性缺陷显示 D . 评定框内同时存在线性缺陷和圆形缺陷时，应进行综合评级

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• 根据JB/T4730.3-2005《承压设备无损检测》规定：以下属于标准试块的是：（）

  A . 钢板用试块：CBⅠ、CBⅡ B . 锻件用试块：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ C . 焊接接头用试块：CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA D . 堆焊层用试块：T1、T2、T3

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• 根据JB/T4730-2005标准规定，以下对检测设备要求的叙述，正确的是：（）

  A . 检测用仪器和设备的性能应每年进行一次检定（校准），并有记录可查 B . 黑度计至少每6个月校验一次 C . 射线设备更换重要部件应及时对曝光曲线进行校验或重新制作 D . 对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次

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• 在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）

  A . 双壁单影透照像质计放置在胶片侧 B . 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明 C . 单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验 D . 当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

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• JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？

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• 根据JB/T4730-2005标准规定，针对特定的某台X射线探伤机，以下（）条件改变时，必须重新制作曝光曲线。

  A . 透照厚度 B . 焦距 C . 黑度 D . 显影时间

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• JB4730－94中规定，电磁轭的磁间距应控制在（）

  A . A．50～200mm B . B．75～200mm C . C．50～250mm D . D．50～300mm

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• 下列关于磁悬液和载体的叙述，与JB/T4730.4-2005标准相符合的是（）。

  A . A、湿法应采用水或高粘度油基载体为分散煤介 B . B、载体颜色应与被检工件表面有较大的对比度 C . C、若以水为载体时必须加消泡剂 D . D、不论是配制浓度还是沉淀浓度，荧光磁粉的浓度均小于非荧光磁粉

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• 根据JB/T4730.3-2005《承压设备无损检测》规定：回波动态波形中的波形模式Ⅰ与波形模式Ⅱ有时不容易分清，其原因是：（）

  A . 缺陷不垂直于检测表面 B . 使用聚焦探头 C . 探头在有曲率表面扫查 D . 声程距离较大

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• JB/T4730-2005标准规定：长度与宽度之比小于3的缺陷显示，按圆形缺陷处理。

  A . 正确 B . 错误

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• JB4730-94标准规定：低填充因数公式是用在工件直径小于线圈内径的（)

  A．A.10% B．B.10mm C．C.90% D．D.90mm

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• 下面是对JB／T4730.2－2005标准中关于曝光量规定的理解，错误的是（)。

  A．A.曝光量与焦距有关，与检测技术级别有关 B．B.曝光量与焦距有关，与检测技术级别无关 C．C.采用γ射线源透照时，总的曝光时间与检测技术级别无关 D．D.当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算

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• 按JB/T4730.3-2005标准规定，钢板的评定与质量分级是根据缺陷的（)。

  A．A.缺陷的性质 B．B.缺陷的指示长度 C．C.缺陷的指示面积、缺陷面积率 D．D.以上都是

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