能量80keV的电子入射到X射线管的钨靶上产生的结果是（）
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能量80keV的电子入射到X射线管的钨靶上产生的结果是（）
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当人射X射线光子和原子内一个轨道电子发生相互作用时，光子损失一部分能量，并改变运动方向，电子获得能量而脱离原子，这个过程称为康普顿效应。损失能量后的x射线光子称为散射光子，获得能量的电子称为反冲电子。入射光子被散射时波长的改变，错误的是（）.
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
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X射线的波长范围为（）nm；对应的能量范围为（）keV。
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能量80keY的电子人射到X射线管的钨靶上产生的结果是（）.
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高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线。X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱。这种条件下产生的X线的叙述，正确的是（）
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将X射线管靶极金属由钼靶改为钨靶，而管电压和管电流都一定时，所发生标识X射线的能量与波长是否相同？（）
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高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。与X线产生无关的因素是（）
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当入射X射线光子和原子内一个轨道电子发生相互作用时，光子损失一部分能量，并改变运动方向，电子获得能量而脱离原子，这个过程称为康普顿效应。损失能量后的X射线光子称为散射光子，获得能量的电子称为反冲电子。下列说法错误的是（）
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将X射线管靶极金属由钼靶改为钨靶，而管电压和管电流都一定时，所发生标识X射线的能量与波长将如何变化（）
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当入射X射线光子和原子内一个轨道电子发生相互作用时，光子损失一部分能量，并改变运动方向，电子获得能量而脱离原子，这个过程称为康普顿效应。损失能量后的X射线光子称为散射光子，获得能量的电子称为反冲电子。入射光子被散射时波长的改变，错误的是（）
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X射线光子与物质发生相互作用的过程是能量传递的过程。当入射光子的能量取值不同时，发生的作用形式是不同的。当入射光子能量远远大于原子外层轨道电子的结合能时发生（）
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在X射线管中，电子的动能在靶上的能量转换形式为（）
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设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。
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高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线。X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱。下列叙述错误的是（）
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X射线光子与物质发生相互作用的作用过程是能量传递的过程。当入射光子的能量取值不同时，发生的作用形式是不同的。当入射光子能量远远大于原子外层轨道电子的结合能时发生（）.
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高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。有关特征X线的解释，错误的是（）
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γ射线进入探测器，通过三种效应产生了次级电子，这个次级电子的能量具体为多少是与发生的反应类型有关的，不妨设次级电子的能量为500keV。这个500keV的电子将在探测器内损失能量并形成大量电子－离子对（设为气体探测器），则电子－离子对的数目服从什么分布？
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入射电子束的能量很高，甚至可以激发出样品的特征X射线（ ）
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当入射X射线光子和原子内一个轨道电子发生相互作用时，光子损失一部分能量，并改变运动方向，电子获得能量而脱离原子，这个过程称为康普顿效应。损失能量后的X射线光子称为散射光子，获得能量的电子称为反冲电子。入射光子被散射时波长的改变，错误的是A、波长变长
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已知入射的X射线束含有从0.095~0.130nm范围内的各种波长，晶体的晶格常数d为0.275nm，当X射线以45°角入射到晶体时，问对哪些波长的X射线能产生强反射？
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X射线束的强度由轰击钨靶的电子数量决定。（)
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