双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。
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探头晶片尺寸增大,对探伤有哪些有利因素?
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选择较小尺寸的探头晶片探伤()。
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探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。
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单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()
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为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小()。
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探头晶片尺寸大,辐射的超声波能量(),探头未扩散区扫查范围大,远距离扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。
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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。
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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
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直探头的压电晶片发射纵波,斜探头的压电晶片发射横波、表面波或板波。
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探头晶片尺寸增加,对探伤有哪些有利因素?
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检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
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从探头表面发射出的声束受哪些因素影响()。①声束波长②探头材料③压电晶片的直径
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从探头表面发射出的声束受哪些因素影响() ①声束波长 ②探头材料 ③压电晶片的直径
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单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。
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收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
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较小的探头晶片尺寸发射的超声波束,其远场覆盖面积()。
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为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小、分辨率好。
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超声波检测探头的盲区是指从检测面到能够测出缺陷的最小距离,是由( )造成的。
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从探头表面发射出的声束受哪些因素影响?①声束波长;②探头材料;③压电晶片的直径。()
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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。()此题为判断题(对,错)。
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使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力()
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双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。()
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薄工件、检测面较小或不太平整、曲率较大的工件应选用晶片尺寸较小的探头。()
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