涡流探伤用对比试件上的人工缺陷的用途是什么？

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• 在涡流探伤中，在试件上感生的电流方向（）.

  A . 与激励电流的方向相同 B . 与激励电流的方向相反 C . 与激励电流的方向无关 D . 取决于激励电流是直流还是交流

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• 试件的磁感应强度和试件上缺陷大小都一定时，缺陷埋藏深度越深，漏磁场强度越小

  A . 正确 B . 错误

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• 荧光磁粉探伤中，被检试件上的紫外光强度不得低于（）LX

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• 在穿过式线圈的涡流探伤仪中，要将标定用标准试样上的缺陷以不同位置（如缺陷向上、向左、向右）几次通过线圈，其目的是（）。

  A . 校核相位灵敏度 B . 保证试样与线圈的对中 C . 选择调制频率的旋钮位置 D . 选择合适的检验速度

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• 为什么涡流探伤只适用于检测材料表面及近表面缺陷？

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• 在轧辊缺陷检查时，除了涡流探伤，可以用（）探伤来发现微小的裂纹。

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• 磁粉探伤的基本原理是要在试件上能建立一定大小的磁感应强度

  A . 正确 B . 错误

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• 磁粉探伤是利用在试件上能建立一定大小的（），并在缺陷附近形成一定大小的（），且足以吸附一定量的（）而呈现磁痕，以显示缺陷的存在的探伤方法

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• 试件上的不连续性应在什么时候检查？（）

  A . A、施加显像剂后立即检查 B . B、施加显像剂後的任何时候 C . C、在正确的显像时间结束后 D . D、水洗之后立即进行检查

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• 在探伤前，应去除吸附在试件上的所有外来物，如（）、（）和（）等等.

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• 试件的磁感应强度和试件上缺陷大小都一定时，缺陷埋藏深度越深，漏磁场强度越大

  A . 正确 B . 错误

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• 涡流探伤主要是通过观察涡状流动的电流变化量，来判断缺陷的探伤方法。

  A . 正确 B . 错误

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• 试件上的磁通密度在大于、等于饱和磁通密度的（）%时，缺陷漏磁通开始急剧增大

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• 影响涡流探伤的主要试件参数是试件的（）。

  A . 电导率 B . 磁导率 C . 几何形状 D . 以上均是

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• 试件上的磁通密度在大于、等于饱和磁通密度的80%时，缺陷漏磁通开始急剧增大

  A . 正确 B . 错误

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• 超声波探伤用的面积、幅度对比试块的人工缺陷形式为横通孔。

  A . 正确 B . 错误

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• 人工裂纹对比试块的主要用途是什么？（）

  A . A、检验渗透探伤液的性能 B . B、检验操作工艺是否恰当 C . C、a和b D . D、以上都不对

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• 涡流探伤的相似率，指的各种试件探伤结果相似时，必定有相同的（）。

  A . 试件形状 B . 频率比f/fg C . 信号相位 D . 间距

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• 在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）

  A . A、等于Φ2mm平底孔 B . B、比Φ2mm平底孔大 C . C、比Φ2mm平底孔小 D . D、大于等于Φ2mm平底孔

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• 当涡流探伤灵敏度最高，涡流流动方向与缺陷主平面一般是（）。

  A . 平行 B . 垂直 C . 不接触 D . 倾斜

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• 对方形截面的导电试件，选用涡流探伤时可采用（）。

  A . 穿过式探头 B . 旋转式探头 C . 混合式探头 D . 以上三者都可以

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• 检测探头探到试件上的缺陷时，会使测量绕组发生变化的（）。

  A . 只有电阻 B . 只有电抗 C . 同时有电阻和电抗 D . 先电阻后电抗

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• 对比试块的主要用途是获得一个一致的用来校正探伤灵敏度和对比缺陷大小的参考基准。

  A . 正确 B . 错误

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• 渗透探伤用的人工裂纹对比试块有哪三种？

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