ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。
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ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。
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用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅，当样品中含有大量Fe时，Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰，可采用的消除干扰的方法是（）
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石墨炉原子收光度法测定水中CdCupB时，从背景干扰角度分析，NACI对镉、铜、铅的测定产生正干扰。
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用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数与光谱仪的分辨能力无关，可直接使用文献资料中的干扰系数。
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用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。
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ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。
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用ICP-AES法测定水中金属元素时，化学富集分离法用于校正元素间干扰，效果明显并可提高元素的检出能力，但操作手续繁冗，且易引入试剂空白。
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ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅，当样品中含有大量Fe时，Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰，可采用的消除干扰的方法是
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用ICP-AES法测定水中金属元素，为尽量降低空白背景、测定所使用的所有容器清洗干净后，需用10％的（）荡洗、（）冲洗、（）反复冲洗。
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用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数与光谱仪的分辩能力无关，可直接使用文献中的干扰系数。
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用ICP-AES法测定水中金属元素，目前常用的、比较简便的校正元素间干扰的方法是（）、或（）。
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ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数IC.P光谱仪软件中采用这种方法。
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用ICP-AES法测定时，背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。
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在光谱定性分析时，为了减少谱线间的干扰、重叠和提高分辨率，光谱仪的夹缝选得（）。
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用ICP-AES法测定水中金属元素，为尽量降低空白背景，测定所使用的所有容器清洗干净后，需用10％的（）荡洗、（）冲洗、（）反复冲洗。
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用ICP-AES法测定水中金属元素时，基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是理想的消除干扰的方法，但存在高纯试剂难于解决的问题，且废水的基体成分变化莫测，标准溶液的配制十分麻烦
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电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。
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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时，如何校正ICP-AES法的非光谱干扰？
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用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅，当样品中含有大量Fe时，Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰，可采用哪种方法以消除干扰（）。
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用ICP-AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
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用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅，当样品中含有大量Fe时，Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰，可采用的消除干扰的方法是（）。
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