在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
相似题目
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X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
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在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
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X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.
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X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
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X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
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在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。
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在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
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在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
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在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是（）。
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X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)