用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

A . 球面干涉 B . 等倾干涉 C . 等厚干涉

时间:2022-09-30 16:22:51 所属题库:初级长度计量工题库

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