单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
相似题目
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铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。
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直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
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探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。
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直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中，由于多次反射之间的（）作用，使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
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用2.5MHzφ14mm直探头探测一锻件，200mm处φ2平底孔回波相对波幅为6dB，探伤中在100mm处发现一缺陷回波，波幅为22dB，此缺陷的当量大小为（）。
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直探头接触法探伤时，（）要涂布耦合剂。
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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。
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在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）
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接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。
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直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。
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用直探头直接接触于钢板，对厚度方向进行超声波垂直法探伤，它最易检出的是（）。
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单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。
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直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。
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接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。
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接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）
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在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）
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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。（）此题为判断题(对，错)。
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超声波接触法直探头在压电晶片前面粘贴有保护膜，它的声阻抗与晶片和传声介质的声阻抗要匹配以改善透声性能，按照经典理论，它的理论匹配公式（最佳条件）为（式中：Z保为保护膜声阻抗，Z晶为晶片声阻抗，Z介为传声介质声阻抗）（）。
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用2.5MHzφ14直探头探测一锻件，200mm处φ2平底孔回波相对波幅为6dB，探伤中在100mm处发现一缺陷回波，波幅为22dB，此缺陷的当量大小为（）
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在用AVG方法校正直探头的探伤灵敏度时，被选用的底面应满足以下要求：①应与探测面平行；②其表面应平整光洁；③探头离试件边缘的各向尺寸应≥4（λ·δ)1／2；④不与其他透声物质和吸声物质相接触（)
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直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面、主要用于探测与探测面______的缺陷。