2、表面形貌分析的手段包括()。

A.X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM) B.SEM 和透射电镜(TEM) C.波谱仪(WDS)和 X 射线光电子谱仪(XPS) D.扫描隧道显微镜(STM)和SEM

时间:2024-03-23 13:14:47

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