失败测试
开机后出现Memory testfail说明（）测试失败。
A . A、主板 B . B、显卡 C . C、声卡 D . D、内存
下列哪些情况可能会导致高应变测试失败（）
A . A、桩头混凝土强度不高而被重锤击碎 B . B、偏心锤击、桩垫选择不当使得测试信号严重畸变 C . C、安装点混凝土质量欠佳，锤击后可能导致塑性变形或裂缝，从而产生持续的压力或拉力波而使信号尾部不归零 D . D、传感器没有上紧或桩侧面不平整导致传感器自振 E . E、锤重选择不当或落高控制不当导致激励能量过高或不足
WAP，MMS测试时需要注意的问题是什么，否则测试将失败？
装维支撑平台PON测试失败主要原因（）。
A . 资源信息和综合网管信息不一致 B . 设备离线 C . 测试超时，系统中断测试，返回测试失败信息 D . 光路有告警
