荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）。
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原子荧光光谱和原子吸收光谱仪在结构上的主要区别是（）
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X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。
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利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
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X射线荧光光谱仪探测器的主要技术指标是（）。
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不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。
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在ICP光谱分析中，化学干扰是主要干扰
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原子吸收干扰中的光谱干扰分（）和背景干扰。
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化学干扰是原子吸收光谱分析中的（）干扰。
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在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
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波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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ICP-AES法中的光谱干扰主要存在哪几种类型？
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X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.
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（）是原子吸收光谱分析中的主要干扰因素。
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不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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下述哪种干扰在原子荧光光谱法中比原子吸收光谱法更严重（）
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原子吸收和原子荧光分析的光谱干扰比火焰发射分析法的光谱干扰（）。
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在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
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ICP光谱分析中的化学干扰，比起火焰原子吸收光谱或火焰原子发射光谱分析要轻微得多，因此化学干扰在ICP发射光谱分析中可以忽略不计。（)
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不能消除原子荧光光谱中干扰谱线的方法（）
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原子吸收光谱中的背景干扰产生的原因是（)。
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5、原子荧光与原子吸收光谱仪结构上的主要区别是
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