下列情况。引起偶然误差的是（）。

相似题目

• 下列情况（）将引起偶然误差。

  A . A、使用砝码未经校正的分析天平称量 B . B、容量瓶和吸管不配套 C . C、在称量分析中被测组分沉淀不完全 D . D、用刻度吸管移取溶液时，读数估读不准

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• 下列情况引起的误差属于系统误差的是（）

  A . A、天平本身有一定的变动性 B . B、所用砝码的标示值与真实质量不一致 C . C、天平箱内温度、湿度的微小变化 D . D、称量时把砝码数值看错了

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• 分析测定中出现的下列情况，属于偶然误差的是（）。

  A . A、某分析人员几次读取同一滴定管的读数不能取得一致 B . B、滴定时所加试剂中，含有微量的被测物质 C . C、某分析人员读取滴定管读数时总是偏高或偏低 D . D、蒸馏水含有杂质

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• 进行样品分析时，下列情况属偶然误差的是（）.

  A . 分析中存在干扰物 B . 吸管未经校正 C . 分析仪器波长不准 D . 天平未经校正 E . 标本量加错

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• 下列情况引起的误差是系统误差的是（）

  A . 砝码被腐蚀 B . 试剂里含有微量的被测组分 C . 重量法测定SiO 含量是，试液中硅酸沉淀不完全 D . 天平的零点突然有变动

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• 测定过程中出现下列情况，导致偶然误差的是（）

  A . A、砝码未经校正； B . B、试样在称量时吸湿； C . C、几次读取滴定管的读数不能取得一致； D . D、读取滴定管读数时总是略偏高。

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• 测定中出现下列情况，属于偶然误差的是（）

  A .

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• 下列情况给分析结果带来偶然误差的是（）

  A . 称量时天平室气温的变化 B . 砝码的标示值与实际质量的差异 C . 滴定管的示值与实际体积的差异 D . 移液管的示值与实际体积的差异

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• 测定过程中出现下列情况，导致偶然误差的是（）。

  A .

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• 某试验测定中发现下列情况而引起误差，哪项适于偶然误差（）。

  A . 天平的两臂不等长 B . 整个分析中存在干扰物 C . 血清量加错 D . 吸管未经校正 E . 砝码未经校正

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• 下列（）将引起偶然误差。

  A . A、读取滴定管读数时，小数点后第二位估计不准 B . B、没有扣除空白值 C . C、使用未经校准的移液管 D . D、所用试剂不纯，引入待测组分

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• 在分析过程中，下列情况属于偶然误差的是（）。

  A . 称量过程中天平零点略有变动 B . 分析用试剂中含有微量待测组分 C . 重量分析中，沉淀溶解损失 D . 读取滴定管读数时，最后一位数值估测不准

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• 进行样品分析时，下列情况属偶然误差的是（）

  A . 分析中存在干扰物 B . 吸管未经校正 C . 分析仪器波长不准 D . 标本量加错 E . 天平未经校正

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• 水准测量中，下列哪种情况使量得的结果产生偶然误差（）。

  A . 水准尺倾斜 B . 仪器下沉 C . 视准轴与水准轴不平行 D . 读数不准确

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• 进行样品分析时，下列情况属偶然误差的是()

  A . A．分析中存在干扰物 B . B．吸管未经校正 C . C．分析仪器波长不准 D . D．天平未经校正 E . E．标本量加错

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• 下列情况引起的误差属于偶然误差的有（）。

  A . 砝码腐蚀 B . 试剂中含有微量待测组分 C . 重量法测定SiO 时，试液中硅酸沉淀不完全 D . 样品称量过程中，环境温度和湿度微量波动

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• 分析测定中出现的下列情况，何种属于偶然误差（）。

  A . A、滴定时所加试剂中含有微量的被测物质 B . B、某分析人员几次读取同一滴定管的读数不能取得一致 C . C、某分析人员读取滴定管读数时总是偏高或偏低 D . D、滴定时发现有少量溶液溅出

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• 下列情况引起偶然误差的是( )。

  A、A  移液管转移溶液之后残留量稍有不同 B、B  所用试剂中含有被测组分 C、C  以失去部分结晶水的硼砂作为基准物标定盐酸 D、D 天平两臂不等长

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• 引起偶然误差的因素是无法控制的，偶然误差的变化不能预先确定。

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• 下列情况引起的误差，哪些属于系统误差？哪些属于偶然误差？ （1）使用被腐蚀的砝码 （2）称量时天平零点稍有变动 （3）称量时分析天平未调零 （4）差减称量法称取样品时，有粉末从瓶盖洒落在桌面 （5）滴定管未校准 （6）试剂里含有微量被测组分

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• 化学计量点与滴定终点有什么区别？这两者不一致引起的误差叫什么误差？这个误差误差属于系统误差还是偶然误差？在什么情况下，这两点可能重合？

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• 28、分析测定中出现的下列情况，哪种属于偶然误差（)。

  A．滴定时所加试剂中含有微量的被测物质 B．滴定管读取的数值偏高或偏低 C．所用试剂含干扰离子 D．室温升高

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