X射线物相分析可以用来分析同素异构体（ ）

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• X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）

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• X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。

  A . 正确 B . 错误

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• 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。

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• 在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。

  A . 谱线 B . 波长 C . 特征线 D . 强度

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• 能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。

  A . 正确 B . 错误

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• 放射性物品检测器是用来记录射线种类，测量射线强度，分析射线能量的仪器。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。

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• X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

  A . 粒度效应 B . 吸收 C . 增强 D . 矿物效应

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• X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

  A . 正确 B . 错误

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• 在X射线衍射分析时，需要采用连续X射线作为辐射源。

  A . 正确 B . 错误

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• 当X射线机检查员发现X光机图像有（）时，应该采用综合分析结合重点分析等方法分析图像。

  A . 电池 B . 照相机 C . 瓷器 D . 电子计算机

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• X射线光谱分析中是以（）为分析依据的。

  A . 连续光谱 B . 特征光谱 C . 锐线光源 D . 高速电子流

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• X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

  A . 正确 B . 错误

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• 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

  A . 正确 B . 错误

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• 在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。

  A . A、小于 B . B、等于 C . C、大于

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• 在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是（）。

  A . A、分光晶体 B . B、探测器 C . C、波高分析器 D . D、放大器

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• X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？

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• X射线定量物相分析法包括( )

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• 可以用来拍摄人体X光胸片的光源是硬X射线。

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• 对于x射线物相定量分析，下列说法正确的是( )

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• 传统X射线物相定量分析对被测物相的晶粒尺寸及取向无要求

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• X射线能谱仪成分分析法主要利用X射线作为探测束来分析材料微区成分。（)

  是 否

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