完全随机设计多个样本秩和检验进行两两比较时，需要对α进行调整。

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• 等级资料的比较常采用的检验方法是（）行×列表资料的比较常采用的检验方法是（）随机区组设计的多个样本均数比较时常采用的检验方法是（）

  A . t检验 B . 方差分析 C . 正态性检验 D . 卡方检验 E . 秩和检验

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• 成组设计多个样本比较的秩和检验（Kruskal-Wallis），若最小样本例数大于5，统计量H近似服从的分布是（）

  A . t分布 B . 正态分布 C . χ分布 D . F分布 E . 标准正态分布

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• 完全随机设计的五个均数，进行两两比较，可以选择的检验方法是（）

  A . t检验 B . u检验 C . F检验 D . q检验 E . X 检验

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• 在比较完全随机设计两个小样本的均数时，需用t′检验的情况是（）。

  A . 两总体方差不等 B . 两样本方差不等 C . 两样本均数不等 D . 两总体均数不等

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• 完全随机设计的5个均数，进行两两比较，可以选择的检验方法是（）

  A . t检验 B . u检验 C . F检验 D . q检验 E . χ检验

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• 完全随机设计的五个均数，进行两两比较，可以选择的检验方法是（）。

  A . t检验 B . u检验 C . F检验 D . q检验 E . χ检验

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• 多个样本均数间两两比较时，若采用t检验的方法。则会出现的情况是（）

  A . 结果与q检验相同 B . 结果比q检验更合理 C . 可能出现假阴性的结果 D . 可能出现假阳性的结果 E . 以上都不对

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• 完全随机设计的多个样本均数比较，经方差分析，若P≤α，则结论为（）

  A . 各样本均数全相等 B . 各样本均数全不相等 C . 至少有两个样本均数不等 D . 至少有两个总体均数不等 E . 各总体均数全相等

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• 在比较完全随机设计两个小样本的均数时，需要（校正）t检验的情况是（）。

  A . 两总体方差不等 B . 两样本方差不等 C . 两样本均数不等 D . 两总体均数不等

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• 多个样本均数的两两比较可用成组t检验。

  A . 正确 B . 错误

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• 两个或多个样本均数比较的检验方法是多个均数间的两两比较检验方法是方差分析中方差齐性检验常用的方法是

  A . χ 检验 B . Levene检验 C . t检验 D . F检验 E . q检验

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• 成组设计多个样本比较秩和检验的近似检验为（）

  A . F检验 B . t检验 C . χ 检验 D . u检验 E . 拟合优度检验

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• 两个或多个样本均数比较的检验方法是（）多个均数间的两两比较检验方法是（）

  A . 变量变换 B . Bartlettχ 检验 C . u检验 D . F检验 E . q检验

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• 完全随机设计资料多个样本均数的比较时，若处理无作用，则方差分析的F值在理论上应等于（）

  A . -1 B . 0 C . 1 D . ∞ E . 任意值

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• 完全随机设计的多个样本均数比较，经方差分析，若P≤α，则结论为

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• 成组设计多个样本比较的秩和检验（Kruskal-Wallis)，若最小样本例数大于5，统计量H近似服从的分布是

  成组设计多个样本比较的秩和检验(Kruskal-Wallis)，若最小样本例数大于5，统计量H近似服从的分布是 A．t分布 B．正态分布 C．χ2分布 D．F分布 E．标准正态分布

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• 完全随机设计的多个样本均数比较，经方差分析，若P≤a，则结论为（）

  A．各样本均数全相等 B．各样本均数全不相等 C．至少有两个样本均数不等 D．至少有两个总体均数不等 E．各总体均数全相等

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• 1、完全随机设计两独立样本比较的秩和检验，下列描述错误的是：______

  A．将两组数据分别由小到大编秩 B．将两组数据混合由小到大编秩，遇到相同数据，若在同一组，按顺序编秩 C．遇有相同数据，若在同一组，可按顺序编秩，也可取其平均秩次 D．遇有相同数据，若在不同组，取其平均秩次

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