X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
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X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
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X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
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X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
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进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
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X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
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X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
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X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
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X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)