X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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属于X线发生装置的是（）用于屏蔽不必要原发射线的装置是（）能够吸收摄影时人体产生的散射线的是（）
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X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
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在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
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射线探伤中屏蔽散射线的方法是（）
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X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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散射背景内标法大多用在分析轻基体中低含量重元素。
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
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在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
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X射线荧光采用内标法分析时选择内标的原则有哪些？
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宽束X射线透照工件时，若入射线强度为I0，未散射的射线强度为I，散射线的强度为IS，则散射比的定义为（）。
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连续宽束X射线透照试件，试件的厚度越大，则散射比越大，平均衰减系数（）。
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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射线检测散射线的控制有哪些措施？
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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【填空题】当X射线照射晶体时，若要在某方向上能获得衍射加强，必须同时满足 ，即在晶体中三个互相垂直的方向上相邻原子散射线的波程差为波长的整数倍。
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用连续宽束X射线透射试件，试件的厚度越大，则散射比n越大。（)
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