X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成,用来提供波谱图。
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不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是()。
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波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。
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X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。
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在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。
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在X射线荧光光谱分析中,制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是()其比例是95%:5%。
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波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。
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波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。
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X射线光谱分析中是以特征光谱线为()
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波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。
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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。
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不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是:()
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X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。
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在X射线荧光分析中,重元素谱线复杂而且较为接近,所以要选择()准直器以提高分辨率。
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X射线荧光采用内标法分析时选择内标的原则有哪些?
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在X射线荧光分析中,选择准直器时应在不发生()重叠前提下,分辨率和()之间要折中考虑,不要太强调分辨率。
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X射线荧光分析中分光元件是()。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。
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在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是()。
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X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。
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