X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
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采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分，在熔融制样过程中滴加碘化铵，其作用是氧化铁矿石中还原物质，保护坩埚。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
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玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
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X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。
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把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
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X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
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X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
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粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。
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X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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玻璃熔片X荧光仪分析，我们采用的混合熔剂是四硼酸锂和碳酸锂按（）比例称取混匀。
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X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。
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X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
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X射线荧光采用内标法分析时选择内标的原则有哪些？
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在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）
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X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中埋弧渣中二氧化硅、氧化铝、氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
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在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
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