X射线光谱分析中是以特征光谱线为()
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。
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因X射线(),所以不能像紫外和可见光那样,用光栅和棱镜来分离特征X射线光谱。
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X射线波长极短,不能像紫外和可见光那样,用()和()来分离特征X射线光谱。
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元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成()。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。
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元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是()定律。此定律成为X射线光谱()分析的基础。
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在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。
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波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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当X射线光管的光电压超过靶材料的()时,开始出现靶材质的特征光谱。
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X射线光谱分析中是以()为分析依据的。
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X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().
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X射线管产生的X射线光谱,除连续X射线光谱外,还有阳极材料所产生的()X射线光谱,且()在连续谱之上。
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X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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X射线荧光光谱仪探测器的能量分辨率主要是以()表示。
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X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。
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在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。
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特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
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X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。
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X射线光谱分析中,通常采用的分光器是______。
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【判断题】波普仪和能谱仪进行成分分析时,全都是以样品的特征X射线为基础。
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