表面波探头用于探测工件表面缺陷。
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表面波探头用于探测工件（）缺陷。
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双晶探头用于探测工件（）缺陷。
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软保护膜探头适合用于粗糙表面的工件探伤。
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双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
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直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
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中心导体法可用于检测工件内、外表面与电流平行的横向缺陷和端面的径向缺陷。
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斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
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表面波探头用于探测工件（）。
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超声波探伤是用于探测焊缝表面缺陷的一种无损检验法。
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斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？
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轴向通电法是将工件通以电流，在工件表面和内部产生一个周向磁场，用于检测横向缺陷。
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计算题：一个经校正好的超声探测系统，在100mm声程处的缺陷回波比试块上200mm处直径为3mm横通孔反射波幅高8dB，如果工件表面状态和材质与试块相同，求缺陷的当量横孔直径。
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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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用于探测零件表面缺陷的无损探伤方法有（）。
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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。
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斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
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用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）
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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
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软保护膜探头适合用于（）的工件表面
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一个经校正好的超声探测系统，在100mm声程处的缺陷回波比试块上200mm，处直径为3mm横通孔反射波幅高8dB，如果工件表面状态和材质与试块相同，求缺陷的当量横孔直径？
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一个校正好的超声探测系统，在100mm声程处的缺陷回波比试块上200mm处直径，横孔反射波幅度高8dB，如果工件表面状态和材质与试块相同，求缺陷的当量横孔直径。
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（）可用于探测某些非铁磁材料表面和近表面缺陷。
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使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力（)
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双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。（)
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