JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）

JB/T4730-2005标准规定，标准动态波形的类型为：（）

A . 点状反射体 B . 不规则大反射体 C . 光滑大反射体 D . 密集型反射体

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JB/T4730.4-2005标准规定磁场指示器主要用于（）。

A . A、检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能 B . B、确定磁化规范 C . C、表示被检工件表面磁场方向、有效检测区以及磁化方法是否正确的一种粗略的校验工具 D . D、作为磁场强度及其分布的定量指示

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JB/T4730-2005标准规定：显示分为相关显示，非相关显示和虚假显示，小于0.5mm的显示不计，其它任何显示均应记录和评定。

A . 正确 B . 错误

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JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。

A . 1mm B . 0.1mm C . 0.5mm D . 0.8mm

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JB/T4730.4-2005标准规定：下列说法不正确的是（）。

A . A、每天开始检测工作前，用标准试片或标准试块检验磁粉检测设备及磁粉和磁悬液的综合性能 B . B、电磁轭提升力至少每三个月校验一次 C . C、磁场计应至少每年校验一次 D . D、磁探机的电流载荷校验原则上每年进行一次

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JB/T4730标准规定出现什么情况时，应进行磁粉检验复验？

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JB/T4730.5-2005标准规定，镀鉻试块不可用于以下情况：（）

A . 检验渗透检测剂系统灵敏度 B . 对用于非标准温度下的渗透检测方法作出鉴定 C . 在正常使用状态下，检验渗透检测剂能否满足要求 D . 检验渗透剂渗透速度

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JB/T4730.4-2005标准对综合评级是如何规定的？

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下述术语定义符合JB/T4730.1－2005标准规定的是：（）

A . 公称厚度：受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄 B . 焦距：沿射线束中心测定的工件受检部位表面与胶片之间的距离 C . 圆形缺陷：长宽比小于或等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷 D . 小径管：外直径D0小于或等于100mm的管子

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JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）

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下列叙述与JB/T4730.5-2005标准规定不相符合的是：（）

A . 渗透检测质量分级考虑到了缺陷性质、数量、尺寸和密集程度 B . 圆形缺陷的分级既限定了单个缺陷最大尺寸，又限定了缺陷密集程度 C . 焊接接头不允许存在横向线性缺陷显示 D . 评定框内同时存在线性缺陷和圆形缺陷时，应进行综合评级

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根据JB/T4730-2005标准规定，标记的放置要求为：（）

A . 放置在距焊缝5mm以内的部位 B . 所有标记的影像不应重叠 C . 所有标记均应放置在源侧工件表面 D . 不应有干扰有效评定范围的影像

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JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

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在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）

A . 双壁单影透照像质计放置在胶片侧 B . 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明 C . 单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验 D . 当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

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JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？

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JB/T4730标准规定，不同类型的渗透剂不得混用。（）

A . 正确 B . 错误

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按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。

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JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。

A . 正确 B . 错误

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JB/T4730-2005标准规定：长度与宽度之比小于3的缺陷显示，按圆形缺陷处理。