X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。
相似题目
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
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可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有（）。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
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X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
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X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。
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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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应用X射线荧光光谱分析轻元素时，由于轻元素（）所以要选用粗准直器。
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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
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进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
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能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。
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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。
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X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
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X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和