X-荧光波谱分析仪（品位仪）的分光元件一般是（）

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• 采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）

  A . 四硼酸锂 B . 碳酸锂 C . 碘化铵 D . 钴共熔体

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• X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件。

  A . 正确 B . 错误

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• 波谱仪（WDS）、能谱仪（EDS）和X光荧光（XRF）光谱仪是否可以查明钻石样品中的碳和氮含量（）和合成钻石中镍的含量（）。

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• 玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。

  A . 铂金 B . 黄金 C . 白银 D . 铁的

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• 为什么要求X射线荧光仪分光室处于真空状态？

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• 采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）

  A . 0.10g B . 0.21g C . 0.35g D . 0.70g

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• 能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。

  A . 正确 B . 错误

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• 玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。

  A . 机烧 B . 球团 C . 石灰块 D . 铁矿石

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• 目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。

  A . 压片法 B . 薄膜法 C . 熔融制样法 D . 离心浇铸法

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• 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

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• 在X荧光仪分析铁水时，我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。

  A . ≥0.020% B . ≥0.030% C . ≤0.020% D . ≤0.030%

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• 原子吸收仪和分光光度计的光电转换元件有何不同？为什么？

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• X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）

  A . A、正比计数器 B . B、闪烁计数器 C . C、光电倍增管

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• 粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。

  A . 100目 B . 120目 C . 150目 D . 180目

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• 在X荧光仪分析铁水时，我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。

  A . ≥0.30% B . ≥0.50% C . ≤0.30% D . ≤0.50%

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• 采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。

  A . 0.5g B . 0.6g C . 0.7g D . 0.8g

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• 玻璃熔片X荧光仪分析，我们采用的混合熔剂是四硼酸锂和碳酸锂按（）比例称取混匀。

  A . 5：1 B . 1：5 C . 6：1 D . 1：6

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• X射线荧光光谱仪采用（）作为分光元件。

  A . 棱镜 B . 光栅 C . 晶体 D . 入射狭缝

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• X光荧光（XRF）光谱产生的原因是（）。两种谱仪一种是（），另一种是（）。它们与波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS）的区别是（）。

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• 在X射线荧光光谱仪的分光系统中，一般有（）个准直器。

  A . A、一 B . B、二 C . C、三

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• 采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）

  A . 四硼酸锂 B . 碳酸锂 C . 碘化铵 D . 四硼酸钠

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• X射线荧光分析中分光元件是（）。

  A . A、棱镜 B . B、光栅 C . C、分光晶体 D . D、光电倍增管

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• （）是X射线荧光光谱仪的分光器件。

  A . 石英棱镜 B . 光栅 C . 分光晶体 D . 卤素盐棱镜

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• 采用玻璃熔片X荧光仪分析中埋弧渣中二氧化硅、氧化铝、氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）

  A . 0.10g B . 0.21g C . 0.35g D . 0.70g

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