X-荧光波谱分析仪(品位仪)的检测器一般有()
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玻璃熔片法X荧光仪分析下列()样品时,熔样时要加入钴共熔体。
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目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有()方法。
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在X荧光仪分析铁水时,我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差()必须重新磨样分析进行确认。
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在X荧光分析中不常使用的探测器是()。
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粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约()的粉末试样。
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在X荧光仪分析铁水时,我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差()必须重新磨样分析进行确认。
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X荧光分析中不常使用的探测器是()。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂,在熔制玻璃熔片时,需要加入()
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中埋弧渣中二氧化硅、氧化铝、氧化钙含量,在熔制玻璃片应称取()
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