用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
相似题目
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检定游标高度尺的示值或量爪工作面与基座工作面的平行度时，在1级平板上进行。对1级平板来说，其平面度不大于（）。
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用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。
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用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。
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用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。
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在“光干涉原理甲烷检定器（试行）”检定规程中规定，检定基本误差是用（）法。
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用刀口尺（样板直尺）检定工作面的平面度时，通常用光隙法进行，当采用此法检定时，其间隙量一般不大于（）。
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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
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若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。
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在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。
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用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时，在一对角线位上出现两边有1μm间隙量，而在另一对角线方位上出现中间有2μm的间隙。试求该平面的平面度。
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用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
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检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时，在1级平板上进行，对1级平板来说，其平面度不大于（）。
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用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面
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用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。
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用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。
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将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
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用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好
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千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。
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用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整
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用2级平晶检定量块测量面的研合性时，量块工作面（），即可判为合格。
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干涉法是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种测量方法。
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用刀口尺检定游标卡尺的平面度时，应在测量面纵、横向中间和两对角线四个方位检定。如检定时光隙在某一方位出现在中间部位，另一方位出现在两边部位时，则测量面的平面度以中间部位最大光隙量与两边部位最大光隙（）确定。
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用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
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若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。