在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。

A . 0.001mm B . 0.002mm C . 0.003mm

时间:2022-10-10 09:44:32 所属题库:高级长度计量工题库

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