X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。

相似题目

• 色散型X射线荧光光谱仪分为（）。

  A . 能量色散型 B . 多色散型 C . 波长色散型 D . 热量色散型

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• 在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。

  A . 正确 B . 错误

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• 波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。

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• 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。

  A . 发散 B . 会聚 C . 平行 D . 混合

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• X射线波长色散和能量色散是建立在（）和（）基础上的。

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• 顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。

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• 能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。

  A . 正确 B . 错误

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• 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

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• 在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。

  A . 混合 B . 特征 C . 连续 D . 散射

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• 能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。

  A . 谱平滑 B . 背景拟合扣除 C . 重叠峰的拟合 D . 分离

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• 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

  A . 正确 B . 错误

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• 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。

  A . 闪烁 B . 半导体 C . 流气式 D . 光电倍增管

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• 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。

  A . 光子能量 B . 光波 C . 电脉冲 D . 电流

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• 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。

  A . 分光晶体 B . 光栅 C . 棱镜 D . 反射镜

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• 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。

  A . 能量 B . 波长 C . 半导体 D . 计数

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• 波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。

  A . 混合 B . 连续 C . 单色 D . 散射

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• 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。

  A . 样品 B . 晶体 C . 选择性地 D . 反射

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• 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。

  A . 正确 B . 错误

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• 用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）

  A . Si-PIN探测器 B . Si（Li）探测器 C . 硅漂移探测器（SDD） D . 正比计数器

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• 能量色散X射线荧光光谱仪的Si（Li）检测器和前置放大器在室温下锂原子会在硅中扩散，由此影响检测器的性能。因此必须放置在液氮中，使电子噪声降低至可接受水平。

  A . 正确 B . 错误

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• 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。

  A . 调节X射线管电压 B . 调节X射线管电流强度 C . 增加测定时间 D . 增加X射线强度

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• 以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）

  A . A、封闭式正比计数器 B . B、流气式正比计数器 C . C、闪烁计数器 D . D、半导体计数器

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• 波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的（）表示。

  A . 标准偏差 B . 相对标准偏差 C . 极差 D . 误差

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• 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

  A . 正确 B . 错误

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