看谱分析中，所谓谱线强度是指谱线的黑度。
相似题目
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A130826nm（1）的谱线强度为8级，309.27nm（I）的话线强度为9级。采用光谱分析确定试样中A1是否存在时，若前一谱线在试样谱带中小现而后一谱线末出现，可判断试样中有A1存在。
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谱线增宽的因素有（）、（）、（），其中在实际大气中增宽中（）和（）同时存在，在大气低层，谱线的增宽主要由（）决定。高层的谱线增宽由（）
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原子吸收光谱分析过程中，被测元素的相对原子质量愈小，温度愈高，则谱线的热变宽将是（）。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
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每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。
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感光板上谱线的黑度与曝光度之间的关系可用（）来描述。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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基于元素所产生的原子蒸气中待测元素的基态原子对所发射的特征谱线的吸收作用进行定量分析的技术是()
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用发射光谱法测定某材料中的Cu元素时，得铜的某谱线的黑度值（以毫米标尺表示）为S（Cu）=612，而铁的某谱线的黑度值S（Fe）=609，此时谱线反衬度是2.0，由此可知该分析线对的强度比是（）。
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在原子吸收光谱分析过程中，被测元素的原子质量愈小，温度愈高，谱线的热变宽将（）。
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原子吸收光谱分析过程中，被测元素的相对原子质量愈小，温度愈高，则谱线的热变宽将（）。
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光谱定性分析时，是根据谱线的强度深浅而进行的。
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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
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原子吸收光谱分析法是基于待测元素的（）对光源辐射出待测元素的特征谱线的吸收程度。
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光谱仪的分辨率是指能够辩出任意两条谱线的能力。
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原子发射光谱分析中由试样基体的组成与结构对谱线强度产生的影响叫结构影响。
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在原子发射光谱中谱线的强度与下列哪个因素有关？（）
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原子发射光谱分析法是依据（）的特征光谱进行定性分析，是依据谱线的强度定量分析。原子光谱是（）光谱的根本原因是原子能级是不连续的，电子跃迁也是不连续的。狭缝宽度是影响谱线强度和分辨率的主要因素。在光谱定性分析中并列（）的目的是用铁的谱线作为标尺，以确定谱线的波长及其所代表的元素。
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特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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基于元素所产生的原子蒸气中待测元素的基态原子对所发射的特征谱线的吸收作用进行定量分析的技术是（）。
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氢原子光谱的巴耳末系中波长最大的谱线和波长次大的谱线的波长的比值为（ ）。
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不能消除原子荧光光谱中干扰谱线的方法（）
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原子吸收法是基于物质的基态原子蒸气对特征谱线的吸收来分析的。