X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
相似题目
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
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可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有（）。
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X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。
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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
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X射线荧光光谱分析时，原子序数低的元素，其检出限及其测量误差一般都比原子序数高的元素好。
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X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是（）定律。此定律成为X射线光谱（）分析的基础。
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波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
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X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
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应用X射线荧光光谱分析轻元素时，由于轻元素（）所以要选用粗准直器。
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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
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X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
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X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
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X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和