X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

相似题目

• X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

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• 可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有（）。

  A . 硫 B . 钡 C . 锂 D . 铝

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• X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

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• X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。

  A . 不连续 B . 连续 C . 散射 D . 相对

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• X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

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• X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

  A . 正确 B . 错误

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• 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。

  A . 闪烁 B . 半导体 C . 流气式 D . 光电倍增管

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• X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。

  A . 正确 B . 错误

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• 应用X射线荧光光谱分析轻元素时，由于轻元素（）所以要选用粗准直器。

  A . 潜线固有灵敏度高 B . 潜线固有灵敏度低 C . 潜线宽度窄 D . 潜线宽度宽

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• X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。

  A . A、特征光谱 B . B、带状光谱 C . C、连续光谱

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• X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。

  A . A、增大 B . B、减小 C . C、不变

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• 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

  A . 正确 B . 错误

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• X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。

  A . 计算法 B . 实验 C . 作图法 D . 回归方程

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• X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

  A . 正确 B . 错误

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• 设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。

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• X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。

  A . 气体 B . 惰性 C . 分析 D . 氧化性

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• 在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

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• X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

  A . 定性分析 B . 定量分析 C . 都不是

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• X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。

  A . A、X射线管 B . B、晶体 C . C、探测器

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• X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和

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