使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力（)
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表面波探头用于探测工件（）缺陷。
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当超声波从零件表面由探头射入金属内部到缺陷和零件低面时，就分别发生（）并在荧光屏上形成脉冲波形
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ZBY230-84标准中有关仪器电性能要求中，衰减器的指标是（），垂直线性误差的指标是（），动态范围的指标是（），水平线性误差的指标是（），对窄频带探伤仪，应给出（）最小值，以及（）频率下的（最大使用灵敏度），对宽频带探伤仪，应给出频带（）及（）所对应的（）
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双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
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磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。
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表面波探头用于探测工件表面缺陷。
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磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时，当零件在磁场中磁化后会（）来探测缺陷。
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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）
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近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）
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采取什么措施可以提高近表面缺陷的检测能力？
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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。
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检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
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近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）
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当超声波从零件表面由探头射入金属内部，遇到缺陷和零件底面时就分别发生（）并在荧光屏上形成脉冲波形
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斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
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磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
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收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
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窄脉冲探头一般是（）
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（）可用于探测某些非铁磁材料表面和近表面缺陷。
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窄脉冲探头和普通探头相比（）
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双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。（)
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当超声波从零件表面由探头射入金属内部，遇到缺陷就分别发生（)，并在荧光屏上形成脉冲波形。
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当（)从零件表面由探头射入金属内部遇到缺陷和零件底面时，就分别发生反射，并在荧光屏上形成脉冲波形。
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