表面波探头用于探测工件（）缺陷。
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直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
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双晶探头用于探测工件（）缺陷。
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软保护膜探头适合用于粗糙表面的工件探伤。
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双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
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在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？
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直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
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在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。
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斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
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表面波探头用于探测工件（）。
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斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？
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表面波探头用于探测工件表面缺陷。
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计算题：用入射角48°的有机玻璃制作的斜探头，用一次波探测钢制工件时，测得某缺陷的声程120mm，试求该缺陷的位置。（钢CS=3230m/S，有机玻璃Cl=2730m/s）
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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。
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斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
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斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
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用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）
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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
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软保护膜探头适合用于（）的工件表面
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直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。
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（）可用于探测某些非铁磁材料表面和近表面缺陷。
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使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力（)
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双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。（)
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直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面、主要用于探测与探测面______的缺陷。
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