斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
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表面波探头用于探测工件()缺陷。
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单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()
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直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。
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双晶探头用于探测工件()缺陷。
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用单斜探头检查厚焊缝时容易漏掉与探测面垂直的大而平的缺陷。
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在超声波探伤中,斜探头主要用于探测什么缺陷?
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用不同角度的探头对同一缺陷探测时,所得缺陷的深度是不同的。
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斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。
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斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷?
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表面波探头用于探测工件表面缺陷。
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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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水浸探伤中,当探头垂直探测面时,则:()
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斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而()。
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用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。
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直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面()的缺陷。
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若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价,为使波束垂直射及缺陷的最大表面,则要()。
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接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()
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仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是85mm和85mm。
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仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角为45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是:())
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与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探伤方法是()探伤。
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用折射角为45°的斜探头探测钢板中离探测面距离为50mm的缺陷,它的回波前沿应显示于测距标尺满刻度100mm声程的下列刻度上:()
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当焊缝中的缺陷与声束成一定角度时,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收。
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用单斜探头探测焊缝轨底脚较小缺陷时,如果伤损存在于焊缝中心下部,则伤波一定显示在焊筋轮廓波后面。()
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直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面、主要用于探测与探测面______的缺陷。
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