目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有()方法。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣,在熔制玻璃熔片时,需要加入()
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X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()
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玻璃熔片X荧光仪分析,在熔制玻璃片时,采用坩埚是()的。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量,在熔制玻璃片应称取()
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使用近红外光谱分析仪时,检测器与光源置于待测样品同一侧时所采用的分析方法是()。
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玻璃熔片法X荧光仪分析下列()样品时,熔样时要加入钴共熔体。
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把粉末样品加压成型,制成X射线荧光分析试样的方法叫做()
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在X荧光仪分析铁水时,我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差()必须重新磨样分析进行确认。
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X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。
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X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品,样品的()会造成分析误差。
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X-荧光波谱分析仪(品位仪)的检测器一般有()
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粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约()的粉末试样。
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在X荧光仪分析铁水时,我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差()必须重新磨样分析进行确认。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析球团,应称取()钴共熔体。
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玻璃熔片X荧光仪分析,我们采用的混合熔剂是四硼酸锂和碳酸锂按()比例称取混匀。
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X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂,在熔制玻璃熔片时,需要加入()
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X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了()。
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采用WJ-B(或WJ-A)数字化荧光仪对岩屑样品进行荧光检测时,所需岩样质量为1g,氯仿10ml浸泡3min再作检测。()
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