玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。
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原子荧光分光光度法测定废气中汞含量时，滤膜样品溶液的制备方法是：将试样滤膜置于100ml锥形瓶中，加入10ml新配制的（），放置（），其后，消解方法与玻璃纤维滤筒相同，但酸量减半。
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采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分，在熔融制样过程中滴加碘化铵，其作用是氧化铁矿石中还原物质，保护坩埚。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
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X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。
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玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。
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三氯化钛-重铬酸钾容量法测定铁矿中全铁量时，在熔样时加入（）可帮助试样分解。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
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X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。
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在X荧光仪分析铁水时，我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。
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X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
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采用高频感应炉熔样时，常需加入助熔剂。下列试剂中常被用来作助熔剂的是（）。
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粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。
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在X荧光仪分析铁水时，我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。
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玻璃熔片X荧光仪分析，我们采用的混合熔剂是四硼酸锂和碳酸锂按（）比例称取混匀。
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X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。
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X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
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X射线荧光仪样品室抽真空，其目的是为了（）。
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在X荧光分析中，已知某元素A，其分析强度Ia与浓度Ca保持线性关系，现称取含A元素的M试样2.0000克，试样制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为8Kcps；再称取M试样2.0000克，加入A元素0.0100克，制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为14Kcps，求M试样中A元素的质量百分数。
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在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中埋弧渣中二氧化硅、氧化铝、氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
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【判断题】波普仪和能谱仪进行成分分析时,全都是以样品的特征X射线为基础。
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