采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。
相似题目
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一般容量分析要求相对误差≤0.1%，常用分析天平可称准至（）mg，用分析天平称取试样时，至少应称取（）g。
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采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分，在熔融制样过程中滴加碘化铵，其作用是氧化铁矿石中还原物质，保护坩埚。
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
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如果分析结果要求达到0.1%的准确度，使用灵敏度为0.1mg的分析天平称取样品，至少应称取（）。
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玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
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我们用高频红外碳硫分析仪在分析钢中碳含量时，应称取钢屑（）
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玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。
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目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。
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X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
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X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）
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在X荧光仪分析铁水时，我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。
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玻璃熔片X荧光仪分析，我们采用的混合熔剂是四硼酸锂和碳酸锂按（）比例称取混匀。
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滴定分析法要求相对误差为±0.1%，若使用灵敏度为0.0001g的天平称取试样时，至少应称取（）
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X荧光仪中探测器通常采用（）
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如果要求分析结果达到0.1%的精确度，使用灵敏度为0.1mg的天平称取试样时，至少应称取（）。
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进行砂的筛分析时，应称取的试样量为（）
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采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
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配置x＝20%的KI溶液200g，应称取KI多少克？
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在X荧光分析中，已知某元素A，其分析强度Ia与浓度Ca保持线性关系，现称取含A元素的M试样2.0000克，试样制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为8Kcps；再称取M试样2.0000克，加入A元素0.0100克，制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为14Kcps，求M试样中A元素的质量百分数。
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用高频红外碳硫分析仪测定铬铁中碳时，若碳＞3%应称取试样（）左右。
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X-荧光波谱分析仪（品位仪）的分光元件一般是（）
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采用玻璃熔片X荧光仪分析中埋弧渣中二氧化硅、氧化铝、氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
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如要求分析结果达到0.1%的准确度，使用一般电光天平称取试样时至少应称取的重量为（)