下面哪种缺陷不是锻件中常见的缺陷（）。

相似题目

• 锻件中缺陷的取向通常为（）。

  A . A.杂乱 B . B.平行于晶粒流向 C . C.垂直于晶粒流向 D . D.与晶粒流向成45°角

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• 在锻件上可以发现下列哪种缺陷（）

  A . 缩裂 B . 折叠 C . 热裂 D . 分层

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• 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。

  A . 正确 B . 错误

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• 锻件中有一缺陷，位于远场，由缺陷引起底波降低量的等级BG/BF=11Db，该锻件可以评为Ⅳ级。（）

  A . 正确 B . 错误

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• 用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）

  A . A、可不考虑探伤面耦合差补偿 B . B、可采用计算法或AVG曲线法 C . C、可不使用试块 D . D、可不考虑材质衰减修正

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• 后桥中常见的缺陷下列哪一项不是（）。

  A . 后轮毂过热 B . 后桥放油堵裂 C . 调速器失灵

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• 粗糙锻件中的一种缺陷具有下列特征：发生于表面或内部、与锻件温度太低有关、由变形过大而产生、是尺寸不等的直的或不规则的空腔。这种缺陷是（）。

  A . 锻裂 B . 疏松 C . 缩管 D . 分层

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• 锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。

  A . 正确 B . 错误

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• 锻件中有一缺陷，其当量为∮4+10dB，其单个缺陷反射的等级为Ⅴ级。（）

  A . 正确 B . 错误

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• 下述无损检测中，能够检测锻件折叠缺陷的方法是（）

  A . UT直探头直接接触法 B . UT斜直探头直接接触法 C . MT线圈磁化法 D . MT磁轭磁化法

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• 锻件中缺陷主要有折叠、白点、缩孔、裂纹等。

  A . 正确 B . 错误

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• 焊缝中常见的缺陷是下面哪一组？（）

  A . 裂纹，气孔，夹渣，白点和疏松 B . 未熔合，气孔，未焊透，夹渣和裂纹 C . 气孔，夹渣，未焊透，折叠和缩孔 D . 裂纹，未焊透，未熔合，分层和咬边

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• 下述无损检测方法中，能够检测锻件白点缺陷的方法是（）

  A . RT B . UT C . MT D . PT

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• 某锻件采用对比试块法探伤，验收标准为Φ1.2mm平底孔当量，现发现埋藏深度33mm处有一缺陷，应采用下述哪种试块进行评定？（）

  A . A、Φ1.2-25mm B . B、Φ1.2-30mm C . C、Φ1.2-40mm D . D、Φ1.2-50mm

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• 检查厚度为37毫米的钢锻件内部缺陷，应选用下列哪种射线进行检测？（）

  A . A、X射线 B . B、高能射线 C . C、γ射线 D . D、以上都不适合

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• 锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。

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• 以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）

  A . A、当量相同 B . B、铸件中的大 C . C、锻件中的大 D . D、上述都不对

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• 下面哪种缺陷不是滚轧产品中常见的缺陷？（）。

  A . 缝隙 B . 疏松 C . 冷隔 D . 裂纹

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• 锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。

  A . A.30mm B . B.35mm C . C.40mm D . D.50mm

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• 锚具锻件中不允许出现的缺陷有（）

  A . A、折叠 B . B、裂纹 C . C、局部颗粒粗大 D . D、过烧

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• 锻件常见缺陷（）。

  A . A、裂纹 B . B、折叠 C . C、夹层 D . D、尺寸超差

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• 下面哪种不是软件的缺陷等级的划分级别？

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• 下列属于链轨节锻件常见缺陷的是（）

  A．缺肉 B．错移 C．折叠 D．裂纹

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• 下面哪种是硅晶体中的点缺陷（）

  A．硅晶体中的磷杂质 B．晶体中的带一个正电的空位 C．硅晶体有少量的钠 D．层错

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