测量CVT分接电容C2的介损和电容量时,C2的“δ”点接介损电桥的高压端,主电容C1高压端接介损电桥的“Cx”端,用正接线法测试。由于“δ”点绝缘水平有限,为保护“δ”,试验电压不超过()。
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当测到DW8—35断路器合闸对地的介损tgδ若超过规程规定,则可认为该相两支电容套管的tgδ值也超过规程值。
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变压器低电压试验验收进行介质损耗因数、电容量测量时,测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
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采用电容分压器测量试验电压时,若主电容为C1,分电容为C2,其分压比为()。
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在现场测量小电容量试品的介损tgδ值时,使测量结果引入诸多误差的外界因素主要指哪些?
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若试品的电容量为10000pF,测量介损tgδ时加压10kV,试验变压器容量选择应不小于()kVA。
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用QS1型交流电桥测量110kV级以上电流互感器介损tgδ时,当具备电压等级足够的标准电容器时,按正接法测量,试验电压最高可加到()。
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测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时,如试品周围近距离内有大面积接地物体(墙壁、构架、栅栏等),通过()耦合,会影响测量结果的真实性;对大电感试品,应将线圈首尾(),以消除电感、电容对测量准确度的影响。
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测量装在三相变压器上的任一只电容型套管的介损和电容时,相同电压等级的(),将非测量的其他电压等级的绕组三相短路接地,否则会造成较大的误差。
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用正接接线方式,测量一台110kV耦合电容器主绝缘介损tgδ,如介损仪的Cx与其耦合电容的末屏(接地小套管)接触不良,影响介损测量结果准确性。
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采用末端屏蔽法测量串级式电压互感器的介损tgδ时,其值主要反映()
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当被试品电容量很小,测量其介损tgδ时,介损仪的高压引线与被试品的杂散电容对测量的影响不可忽视。
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测量主绝缘为电容式结构的电流互感器的的介损及电容量时,有末屏的应尽量使用()进行测量。
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用QS1型交流电桥测量110kV及以上电流互感器介损tgδ值时,当具备电压等级足够高的标准电容器时,按正接法测量,试验电压最高可加到()。
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110(66)kV-220kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
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油浸式电流互感器采用比较法带电测试tanδ及电容量时,同相设备介损测量差值与初始测量值差值比较,变化范围不超过_A_,电容量比值与初始测量电容量比值比较,变化范围不超过()。
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测量C1与C2相串联的电容式电压互感器绝缘介损时,一般情况下C1<C2/5,所以测量时主要反映(C1)的介损值。
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变压器出厂验收阶段进行绕组对地及绕组间绝缘电阻测量,测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()。
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在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时,若存在电场干扰,则在任意测试电源极性的情况下,所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
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35kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
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用未端屏蔽法测量220kV串级式电压互感器的介损tgδ时,其电容量应是整体电容量的()。
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500(330)kV-1000kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
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小电容(小于500PF)试品,主要有电容型套管、电容型电流互感器等,对这些试品采用介损仪正、反接线进行测量,测得的介损tgδ值是一样的。
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当采用电磁单元为电源测量电容式电压互感器的电容分压器C1和C2的电容量和介损时,必须严格按照试验规程规定。()
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当变压器电容型套管对地绝阻低于1000MΩ时,应测量末屏对地的介损,加压()。
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