方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
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锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）
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锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）
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锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。
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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。
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锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
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锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）
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表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）
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在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（）
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用2.5MHzφ14mm直探头探测一锻件，200mm处φ2平底孔回波相对波幅为6dB，探伤中在100mm处发现一缺陷回波，波幅为22dB，此缺陷的当量大小为（）。
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一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）
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纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
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纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。
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锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。
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锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）
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用2.5MHZ.Φ14mm直探头探伤一锻件，200mm处Φ2平底孔回波相对波幅为6dB，探伤中在100mm处发现一缺陷回波，波幅为22dB，求此缺陷的当量大小（）。
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锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。
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在锻件探伤中当使用底面多次回波计算衰减系数时应注意一次底面回波声程应：（）
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检测厚钢板采用垂直法探伤时，根据（）前后产生的回波情况进行缺陷评定。
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锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
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表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）
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锻件探伤中，荧光屏上出现（）是由于工件材料晶粒粗大
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用2.5MHzφ14直探头探测一锻件，200mm处φ2平底孔回波相对波幅为6dB，探伤中在100mm处发现一缺陷回波，波幅为22dB，此缺陷的当量大小为（）
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锻件超声波探伤时，哪些因素有可能会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）
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